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泰克全新PCIE解决方案帮助您化繁为简

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标签:PCIE 测试测量 测量技术

简介:本研讨会主要针对于从事电缆、连接器等设计和分析的工程师和技术人员。让大家在更好的理解TDR阻抗、S参数、眼图以及Active有源Cable测量技术的基础上,着重介绍QSFP/SFP+、HDMI2.0、Thunderbolt、USB 3.0、DisplayPort等线缆最新测试规范和目前高频线缆发展趋势。