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采用开放的硬件在环(HIL)平台降低测试成本和复杂性

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标签:开放的硬件在环(HIL)平台解决方案可降低测试成本和复杂性如何应对开发创新过程中所带来的新的测试挑战

简介:该在线座谈是NI(美国国家仪器)为降低测试成本和复杂性,推出采用开放的硬件在环(HIL)平台解决方案,一起探讨如何应对各行业开发创新过程中所带来的新的测试挑战。