采用开放的硬件在环（HIL）平台降低测试成本和复杂性

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简介：该在线座谈是NI（美国国家仪器）为降低测试成本和复杂性，推出采用开放的硬件在环（HIL）平台解决方案，一起探讨如何应对各行业开发创新过程中所带来的新的测试挑战。

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